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LDチップテスター DCLT-8500

本装置は、光半導体パッケージ製品の電気特性、光出力特性、波長特性等を自動的に測定し、結果を表示と良否判定を行います。

特長

  • インデックステーブル上での500ns短パルス測定。
  • 簡易な段取り換えによる多品種対応。
  • メンテナンス製を重視した空間構造設計。

仕様

装置スペック

項目範囲分解能表記
電流(PuLSE/CW) 0~300 mA (PuLSE/CW)
0~400 mA (PuLSE)
0.1 mA
0.1 mA
Iop,Ith
パルス幅 0.5, 1.0, 2.0
10, 20, 25 μS
  Tr/Tf=100ns以下
パルス周期 0.2, 0.3, 0.5, 1.0
2.0, 5.0, 10 mS
   
電圧 0~5 V 10 mV Vop.Vth
光出力 0~10 mW
0~100 mW 
0.01mW
0.1mW 
Po
FFP(水平/垂直) ±45° 0.1°  半値,ズレ角
波長 620~800 nm 注1)   ピーク・センター・コヒーレント

 

項目範囲範囲表記
供給 リングシート1枚 SR180 平置き方式 
収納分類 リングシート1枚
ゲルパック6枚
SR180
GEL-PAK社 VRシリーズ
平置き方式
段積み方式 
分類 最大6ランク オリジナルトレイ 平置き方式 

注1) 御相談の上、ほかの波長域へ変更可能。

インデックス上でのパルス波形

インデックス上でのパルス波形

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