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LDエージング装置 DSLD-30VC(VCSEL専用)

【主にVCSEL用デバイスの評価試験装置です】

1デバイス内に実装された複数の素子に対して並列駆動をさせ各素子の電圧値を測定する装置です。

特長

  • 温度仕様20~95℃。
  • オプションにて冶具へのデバイス自動挿抜が可能。
  • 素子へのダメージレス、装置の安定性を考慮した設計。
  • 1素子ごとに駆動回路があるため、多彩な試験が可能。

仕様

試験デバイスタイプ 40chip/64chip LCC形状
※他のchip数にも対応可能です。
電気特性(印加測定) Iop / Vop :30mA / 7V
※Iop:動作電流,Vop:動作電圧
IL機能搭載 (計測時間64chip 200step時8min以内)
オートキャリブレーション機能搭載
温度制御範囲 20~95℃ 
その他 デバイス近傍の温度測定可能

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