製品のご案内

カスタム計測ユニット(概要)

カスタム計測ユニットは下記のような多様なニーズにカスタム対応します!

カスタム対応について


    • パルス印加
      発熱を抑えてデバイスへ電流印加

 

    • 大電流計測
      特殊なデバイスの評価ができます

 

    • 長時間通電
      デバイスの耐久試験

 

    • 高精度計測
      高性能デバイスの評価

 

    • 温調
      温度負荷による加速度試験、温度特性評価

 

    • システムの自動化
      量産対応、生産支援

 

    • 多ch計測
    試験の効率化、時間短縮

ユニットブロック図


 

 

事例

対象デバイス

  • 発光素子(レーザダイオード/LED)
  • 有機EL素子パネル
  • パワー半導体デバイス
  • MEMSセンサー
  • デジタルアナログ複合IC

カスタム回路

s短パルス波形(50ns).jpg

  • 定電圧定電流電源
  • 微小電流測定
  • 高電圧電流測定
  • 掃引印加測定 (ソフト制御)
  • 短パルス印加測定

アプリケーション

  • 高速サンプリング解析
  • 電気特性解析
  • 連続通電耐久試験
  • 試験効率化、多ch化
  • 高機能デバイスの複合測定
  • 温度特性試験

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