LDチップテスター DCLT-8500
本装置は、光半導体パッケージ製品の電気特性、光出力特性、波長特性等を自動的に測定し、結果を表示と良否判定を行います。
特長
- インデックステーブル上での500ns短パルス測定。
- 簡易な段取り換えによる多品種対応。
- メンテナンス製を重視した空間構造設計。
仕様
装置スペック
| 項目 | 範囲 | 分解能 | 表記 |
|---|---|---|---|
| 電流（PuLSE/CW） | 0～300 mA （PuLSE/CW） 0～400 mA （PuLSE） |
0.1 mA 0.1 mA |
Iop,Ith |
| パルス幅 | 0.5, 1.0, 2.0 10, 20, 25 μS |
Tr/Tf=100ns以下 | |
| パルス周期 | 0.2, 0.3, 0.5, 1.0 2.0, 5.0, 10 mS |
||
| 電圧 | 0～5 V | 10 mV | Vop.Vth |
| 光出力 | 0～10 mW 0～100 mW |
0.01mW 0.1mW |
Po |
| FFP（水平/垂直） | ±45° | 0.1° | 半値,ズレ角 |
| 波長 | 620～800 nm 注1） | ピーク･センター・コヒーレント |
| 項目 | 範囲 | 範囲 | 表記 |
|---|---|---|---|
| 供給 | リングシート1枚 | SR180 | 平置き方式 |
| 収納分類 | リングシート1枚 ゲルパック6枚 |
SR180 GEL-PAK社 VRシリーズ |
平置き方式 段積み方式 |
| 分類 | 最大6ランク | オリジナルトレイ | 平置き方式 |
注1） 御相談の上、ほかの波長域へ変更可能。
インデックス上でのパルス波形
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